低溫?fù)暇碓囼?yàn)裝置的導(dǎo)體斷面積100mm2以下之試料在本機(jī)內(nèi)冷卻1小時(shí)后，立即以均勻之速度卷繞于規(guī)定直徑之圓桿上。斷面積100mm2以上之試料，則先行卷繞，再冷卻相同之時(shí)間后，立即以反方向卷繞于圓桿上。取出試料，檢視其表面是否產(chǎn)生龜裂、裂痕。
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- 型號：HK-DWZZ-01
- 時(shí)間：2025-04-08
低溫?fù)暇碓囼?yàn)裝置的導(dǎo)體斷面積100mm2以下之試料在本機(jī)內(nèi)冷卻1小時(shí)后，立即以均勻之速度卷繞于規(guī)定直徑之圓桿上。斷面積100mm2以上之試料，則先行卷繞，再冷卻相同之時(shí)間后，立即以反方向卷繞于圓桿上。取出試料，檢視其表面是否產(chǎn)生龜裂、裂痕。